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Cohu半導(dǎo)體測(cè)試處理器介紹

發(fā)布時(shí)間: 2024-06-28  點(diǎn)擊次數(shù): 228次

Cohu是半導(dǎo)體測(cè)試處理器和接觸器的供應(yīng)商,也是自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備、檢測(cè)和計(jì)量解決方案以及數(shù)據(jù)分析軟件的不斷發(fā)展的供應(yīng)商,以優(yōu)化半導(dǎo)體制造良率和生產(chǎn)力。

一家擁有完整測(cè)試單元和檢測(cè)專業(yè)知識(shí)的公司。我們能夠利用我們?cè)谒挟a(chǎn)品組中的專業(yè)知識(shí)來(lái)創(chuàng)建集成的測(cè)試單元解決方案,使我們能夠?yàn)榭蛻籼峁┙昏€匙、低風(fēng)險(xiǎn)的測(cè)試解決方案,幫助他們實(shí)現(xiàn)大批量生產(chǎn)。


我們與客戶密切合作,并利用 Cohu 產(chǎn)品團(tuán)隊(duì)的跨職能專業(yè)知識(shí);半導(dǎo)體 ATE、測(cè)試處理程序和接口解決方案。


Cohu 在我們的設(shè)施內(nèi)提供全面的預(yù)驗(yàn)證服務(wù),以確保最大限度地減少客戶現(xiàn)場(chǎng)的啟動(dòng)時(shí)間,并在盡可能快的時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn)目標(biāo)產(chǎn)量和吞吐量。


Cohu 已向亞洲、歐洲和北美的 IDM 和 OSAT 交付了多個(gè)完整的測(cè)試單元,以滿足下一代設(shè)備測(cè)試要求并補(bǔ)充現(xiàn)有產(chǎn)能。


在測(cè)試、處理和接口解決方案方面擁有的汽車市場(chǎng)經(jīng)驗(yàn)。Cohu 在測(cè)試具有主動(dòng)熱控制、傳感器、遠(yuǎn)程信息處理和支持傳動(dòng)系統(tǒng)電氣化的設(shè)備的 ADAS 處理器方面處于地位。


Cohu 經(jīng)過(guò)生產(chǎn)驗(yàn)證的測(cè)試單元解決方案能夠滿足高電壓和高電流要求,以提升裸片碳化硅 (SiC) MOSFET 和肖特基二極管以及氮化鎵高電子遷移率晶體管 (GaN HEMT) 汽車和工業(yè)設(shè)備的功率。正在申請(qǐng)的 Volta 通量高功率密度解決方案可實(shí)現(xiàn)相同的接觸元件,用于單功率已知良好芯片 (KGD) 和晶圓探測(cè),可現(xiàn)場(chǎng)更換的 MEMS 探頭可顯著降低測(cè)試成本。


Cohu是半導(dǎo)體測(cè)試處理器和接觸器的供應(yīng)商,也是自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備、檢測(cè)和計(jì)量解決方案以及數(shù)據(jù)分析軟件的不斷發(fā)展的供應(yīng)商,以優(yōu)化半導(dǎo)體制造良率和生產(chǎn)力。



測(cè)試處理程序

用于自動(dòng)化半導(dǎo)體器件移動(dòng)、在測(cè)試過(guò)程中控制溫度和提供視覺(jué)檢測(cè)的設(shè)備組合;確保質(zhì)量并優(yōu)化批量生產(chǎn)的產(chǎn)量。



半導(dǎo)體測(cè)試儀

用于測(cè)試半導(dǎo)體器件的儀器和通用自動(dòng)測(cè)試設(shè)備 (ATE) 平臺(tái)組合,在射頻、數(shù)字和混合信號(hào)應(yīng)用中提供的解決方案,從而加快了產(chǎn)能速度。




接口解決方案

全套測(cè)試接觸器,在測(cè)試儀和測(cè)試處理器提供的半導(dǎo)體器件之間提供電氣接口;通過(guò)一系列耗材探針優(yōu)化信號(hào)性能。



探索我們的產(chǎn)品

檢測(cè)和計(jì)量

用于提供高級(jí)質(zhì)量檢驗(yàn)的測(cè)試和后端精加工設(shè)備組合;確保質(zhì)量并優(yōu)化批量生產(chǎn)的產(chǎn)量。


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